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導(dǎo)熱硅膠片導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)有哪些？導(dǎo)熱硅膠片導(dǎo)熱系數(shù)三大測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)介紹
發(fā)布：導(dǎo)熱硅膠片廠家
時(shí)間：2020-12-08 11:08:52
對(duì)于導(dǎo)熱硅膠片、導(dǎo)熱硅脂和導(dǎo)熱塑料等熱傳導(dǎo)性材料，實(shí)驗(yàn)室常采用的材料導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試包括穩(wěn)態(tài)熱板法與激光閃射法，原理都是根據(jù)傅里葉定律所得出。測(cè)試導(dǎo)熱系數(shù)的方法比較多，導(dǎo)熱材料領(lǐng)域更早被大家認(rèn)可的測(cè)試方法是ASTM E1530, ASTM D5470, ASTM E1461。
國(guó)際通用標(biāo)準(zhǔn)采用美國(guó)材料試驗(yàn)協(xié)會(huì)(ASTM)的 ASTM D5470，ASTM E1461，ASTM E1530三種常用標(biāo)準(zhǔn)。各種不同的測(cè)試方法與測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)得出的數(shù)據(jù)差異較大。ASTM D5470與ASTM E1461的測(cè)試值較為相近，對(duì)于導(dǎo)熱硅膠片諾豐電子（nfion）采用的是ASTM D5470標(biāo)準(zhǔn)，因?yàn)檫@種測(cè)試方式更能模擬實(shí)際的使用狀態(tài)反映導(dǎo)熱系數(shù)。國(guó)外大多著名導(dǎo)熱硅膠片生產(chǎn)企業(yè)也同樣采用這一測(cè)試方法和條件。
ASTM D5470：熱導(dǎo)性電絕緣材料的熱傳輸特性的標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法
采用熱板法/熱流計(jì)法穩(wěn)態(tài)法，對(duì)樣品施加一定的熱流量，測(cè)試樣品的厚度和在熱板/冷板間的溫度差，得到樣品的導(dǎo)熱系數(shù)，需要樣品為較大的塊體以獲得足夠的溫度差。
ASTM E1461：用閃光法(激光閃射法)確定固體熱擴(kuò)散率的試驗(yàn)方法
高強(qiáng)度的能量脈沖對(duì)小而薄的圓盤(pán)試樣進(jìn)行短時(shí)間的輻照。脈沖的能量被樣品的前表面吸收并記錄其所導(dǎo)致后表面溫度上升(溫度自記曲線)。熱擴(kuò)散系數(shù)的值通過(guò)試樣的厚度和后表面溫度上升達(dá)到某一比值的最大值所需要的時(shí)間計(jì)算出來(lái)。原理是一束激光打在樣品上表面，用紅外檢測(cè)器測(cè)下表面的溫度變化，實(shí)際測(cè)得的數(shù)據(jù)是樣品的熱擴(kuò)散率。
ASTM E1530：用保護(hù)的熱流計(jì)技術(shù)評(píng)定材料的耐傳熱性能的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。
雖然測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)一樣，但是不同設(shè)備測(cè)試出來(lái)的數(shù)據(jù)則大相徑庭，國(guó)外大多數(shù)導(dǎo)熱材料生產(chǎn)廠家采用ASTM D5470標(biāo)準(zhǔn)，因?yàn)檫@種測(cè)試方式更能模擬實(shí)際的使用狀態(tài)反映導(dǎo)熱系數(shù)。ASTM E1461是一種激光閃射法，反映的是材料自身內(nèi)部的熱傳導(dǎo)性，但沒(méi)有考慮界面接觸熱阻的影響。ASTM E1530是一種評(píng)定材料的耐傳熱性能的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)，在導(dǎo)熱硅膠片領(lǐng)域一般在用得比較少，測(cè)出來(lái)的數(shù)據(jù)相對(duì)ASTM D5470和ASTM E1461的數(shù)據(jù)要大很多。
諾豐電子作為一家有十年生產(chǎn)經(jīng)驗(yàn)的導(dǎo)熱硅膠片廠家，其導(dǎo)熱硅膠片導(dǎo)熱系數(shù)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)采用ASTM D5470，因?yàn)檫@種標(biāo)準(zhǔn)擁有其他測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)難以媲美的優(yōu)點(diǎn)：經(jīng)過(guò)簡(jiǎn)單改造，可以獲得與實(shí)際工況接近的條件，實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)原位測(cè)試（In-situ Test），滿足不同壓力、不同溫度、濕度和溫度老化全過(guò)程中的熱性能測(cè)量。
